|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Scanning single-electron transistor microscopy: Imaging individual charges |
| Auteur: |
Yoo, M.J. Fulton, T.A. Hess, H.F. Willett, R.L. Dunkleberger, L.N. Chichester, R.J. Pfeiffer, L.N. West, K.W. |
| Verschenen in: |
Physica. E, Low-dimensional systems and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 3 (1998) nr. 1-3 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |