|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 34 van 51 gevonden artikelen
| Titel: |
Probability distribution functions of threshold voltage fluctuations due to random impurities in deca–nano MOSFETs |
| Auteur: |
Toriyama, Shuichi Sano, Nobuyuki |
| Verschenen in: |
Physica. E, Low-dimensional systems and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 19 (2003) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 34 van 51 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |