|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 231 gevonden artikelen
| Titel: |
A multi-defect initialization-based percolation model: a successful scheme to explain dielectric breakdown in MOS devices |
| Auteur: |
dos Santos, R.P Nobre, F.V.J Costa, U.M.S Freire, V.N Lyra, M.L da Silva Jr., E.F |
| Verschenen in: |
Physica. E, Low-dimensional systems and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 17 (2003) nr. C pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 231 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |