|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 31 van 34 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of the nanoscale electrical performance of NiO thin films by C-AFM and KPFM techniques: The effect of grain boundary barrier |
| Auteur: |
Zhang, Yidong Zuo, Junxiang Li, Pinjiang Gao, Yuanhao He, Weiwei Zheng, Zhi |
| Verschenen in: |
Physica. E, Low-dimensional systems and nanostructures |
| Paginering: | Jaargang 111 (2019) nr. C pagina's 75-78 |
| Jaar: |
2019 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 31 van 34 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |