|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
An order(N) tight-binding molecular dynamics study of intrinsic defect diffusion in silicon |
| Auteur: |
Roberts, Bruce W. Luo, Weiwei Johnson, Kurt A. Clancy, Paulette |
| Verschenen in: |
Chemical engineering journal |
| Paginering: | Jaargang 74 (1999) nr. 1-2 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science S.A. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |