Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
 
 
  Design-for-testability to achieve complete coverage of delay faults in standard full scan circuits
 
 
Titel: Design-for-testability to achieve complete coverage of delay faults in standard full scan circuits
Auteur: Pomeranz, Irith
Reddy, Sudhakar M.
Verschenen in: Journal of systems architecture
Paginering: Jaargang 47 (2001) nr. 3-4 pagina's 17 p.
Jaar: 2001
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland