|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
| Titel: |
Design-for-testability to achieve complete coverage of delay faults in standard full scan circuits |
| Auteur: |
Pomeranz, Irith Reddy, Sudhakar M. |
| Verschenen in: |
Journal of systems architecture |
| Paginering: | Jaargang 47 (2001) nr. 3-4 pagina's 17 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 11 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |