|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 756 van 6123 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of microvoids in thin hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and Fourier transform infrared spectroscopy |
| Auteur: |
Liu, Wenzhu Zhang, Liping Meng, Fanying Guo, Wanwu Bao, Jian Liu, Jinning Wang, Dongliang Liu, Zhengxin |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 107 (2015) nr. C pagina's 50-53 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 756 van 6123 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |