|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1320 van 6123 gevonden artikelen
| Titel: |
Direct examination of Si atoms spatial distribution and clustering in GaAs thin films with atom probe tomography |
| Auteur: |
Beainy, Georges Alcotte, Reynald Bassani, Franck Martin, Mickaël Grenier, Adeline Baron, Thierry Barnes, Jean-Paul |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 153 () nr. C pagina's 109-113 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1320 van 6123 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |