|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 605 van 6123 gevonden artikelen
| Titel: |
Atom probe tomography for advanced nanoelectronic devices: Current status and perspectives |
| Auteur: |
Barnes, J.P. Grenier, A. Mouton, I. Barraud, S. Audoit, G. Bogdanowicz, J. Fleischmann, C. Melkonyan, D. Vandervorst, W. Duguay, S. Rolland, N. Vurpillot, F. Blavette, D. |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 148 (2018) nr. C pagina's 91-97 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 605 van 6123 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |