|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1079 van 6123 gevonden artikelen
| Titel: |
Cross-sectional X-ray nano-diffraction and -reflectivity analysis of multilayered AlTiN–TiSiN thin films: Correlation between residual strain and bi-layer period |
| Auteur: |
Bartosik, M. Arndt, M. Rachbauer, R. Krywka, C. Koller, C.M. Keckes, J. Mayrhofer, P.H. |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 107 (2015) nr. C pagina's 153-156 |
| Jaar: |
2015 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1079 van 6123 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |