|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of microstructures in Inconel 625 using X-ray diffraction peak broadening and lattice parameter measurements |
| Auteur: |
Rai, Sanjay K. Kumar, Anish Shankar, Vani Jayakumar, T. Bhanu Sankara Rao, K. Raj, Baldev |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 51 (2004) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2004 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 14 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |