|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
X-ray characterization of anisotropic defect formation in SiC under irradiation with applied stress |
| Auteur: |
Koyanagi, Takaaki Sprouster, David J. Snead, Lance L. Katoh, Yutai |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 197 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2021 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 23 gevonden artikelen
| << vorige |