|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Atom probe tomography of nitride semiconductors |
| Auteur: |
Rigutti, L. Bonef, B. Speck, J. Tang, F. Oliver, R.A. |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 148 (2018) nr. C pagina's 75-81 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |