|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Industrial application of atom probe tomography to semiconductor devices |
| Auteur: |
Giddings, Alexander Devin Koelling, Sebastian Shimizu, Yasuo Estivill, Robert Inoue, Koji Vandervorst, Wilfried Yeoh, Wai Kong |
| Verschenen in: |
Scripta materialia |
| Paginering: | Jaargang 148 (2018) nr. C pagina's 82-90 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |