|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Imaging of the crystal structure of silicon nitride at 0.8 Ångström resolution 1 Work supported by the Director, Office of Science, Office of Basic Energy Sciences, Materials Sciences Division of the US Department of Energy under Contract No. DE-AC03-76SF00098. 1 |
| Auteur: |
Ziegler, A. Kisielowski, C. Ritchie, R.O. |
| Verschenen in: |
Acta Materialia |
| Paginering: | Jaargang 50 (2002) nr. 3 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Materialia Inc |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 18 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |