|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Microbridge testing of silicon nitride thin films deposited on silicon wafers |
| Auteur: |
Zhang, T.-Y Su, Y.-J Qian, C.-F Zhao, M.-H Chen, L.-Q |
| Verschenen in: |
Acta Materialia |
| Paginering: | Jaargang 48 (2000) nr. 11 pagina's 15 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Metallurgica Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |