|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
A seminumerical method to determine the depth profile of the three dimensional residual stress state with X-ray diffraction |
| Auteur: |
Härting, M. |
| Verschenen in: |
Acta Materialia |
| Paginering: | Jaargang 46 () nr. 4 pagina's 1427-1436 |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |