|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
Dislocations, grain size and planar faults in nanostructured copper determined by high resolution X-ray diffraction and a new procedure of peak profile analysis |
| Auteur: |
Ungár, T Ott, S Sanders, P.G Borbély, A Weertman, J.R |
| Verschenen in: |
Acta Materialia |
| Paginering: | Jaargang 46 (1998) nr. 10 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |