|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
A microindentation method for estimating interfacial shear strength and its use in studying the influence of titanium transition layers on the interface strength of epitaxial copper films on sapphire |
| Auteur: |
Dehm, G. Rühle, M. Conway, H.D. Raj, R. |
| Verschenen in: |
Acta Materialia |
| Paginering: | Jaargang 45 (1997) nr. 2 pagina's 11 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Acta Metallurgica Inc. All rights reserved |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |