|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 33 gevonden artikelen
| Titel: |
Dynamic evolution of internal stress, grain growth, and crystallographic texture in arc-evaporated AlTiN thin films using in-situ synchrotron x-ray diffraction |
| Auteur: |
Nayak, Sanjay Hsu, Tun-Wei Boyd, Robert Gibmeier, Jens Schell, Norbert Birch, Jens Rogström, Lina Odén, Magnus |
| Verschenen in: |
Acta Materialia |
| Paginering: | Jaargang 272 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
The Author(s) |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 33 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |