|
Defect recovery processes in Cr-B binary and Cr-Al-B MAB phases: structure-dependent radiation tolerance |
|
|
|
Titel: |
Defect recovery processes in Cr-B binary and Cr-Al-B MAB phases: structure-dependent radiation tolerance |
Auteur: |
Kim, Jun Young Zhang, Hongliang Su, Ranran Xi, Jianqi Wei, Shuguang Richardson, Peter Liu, Longfei Kisi, Erich Perepezko, John H. Szlufarska, Izabela |
Verschenen in: |
Acta Materialia |
Paginering: |
Jaargang 235 () nr. C pagina's p. |
Jaar: |
2022 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|