Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige   
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
 
 
  Understanding and quantifying electron beam effects during in situ TEM nanomechanical tensile testing on metal thin films
 
 
Titel: Understanding and quantifying electron beam effects during in situ TEM nanomechanical tensile testing on metal thin films
Auteur: Stangebye, Sandra
Zhang, Yin
Gupta, Saurabh
Zhu, Ting
Pierron, Olivier
Kacher, Josh
Verschenen in: Acta Materialia
Paginering: Jaargang 222 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2022
Inhoud:
Uitgever: Acta Materialia Inc.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 30 van 30 gevonden artikelen
 
<< vorige   
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland