|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 44 van 70 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of swelling-induced residual stress in ion implanted SiC, and its effect on micromechanical properties |
| Auteur: |
Leide, Alexander J. Todd, Richard I. Armstrong, David E.J. |
| Verschenen in: |
Acta Materialia |
| Paginering: | Jaargang 196 () nr. C pagina's 78-87 |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 44 van 70 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |