|
In situ Synchrotron X-Ray diffraction study of high-temperature stress relaxation in chromia scales containing the reactive element yttrium |
|
|
|
Titel: |
In situ Synchrotron X-Ray diffraction study of high-temperature stress relaxation in chromia scales containing the reactive element yttrium |
Auteur: |
Rakotovao, F. Panicaud, B. Grosseau-Poussard, J.L. Tao, Z. Geandier, G. Renault, P.O. Girault, P. Goudeau, P. Blanc, N. Boudet, N. Bonnet, G. |
Verschenen in: |
Acta Materialia |
Paginering: |
Jaargang 159 () nr. C pagina's 276-285 |
Jaar: |
2018 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Acta Materialia Inc. |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|