|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 75 van 97 gevonden artikelen
| Titel: |
Optimal design of an integrated inspection scheme with two adjustable sampling mechanisms for lot disposition |
| Auteur: |
Wang, To-Cheng Wu, Chien-Wei |
| Verschenen in: |
Advanced engineering informatics |
| Paginering: | Jaargang 62 () nr. PC pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 75 van 97 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |