Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 39 van 57 gevonden artikelen
 
 
  How to identify promising chances for technological innovation: Keygraph-based patent analysis
 
 
Titel: How to identify promising chances for technological innovation: Keygraph-based patent analysis
Auteur: Geum, Youngjung
Kim, Mirae
Verschenen in: Advanced engineering informatics
Paginering: Jaargang 46 () nr. C pagina's p.
Jaar: 2020
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 39 van 57 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland