|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Can experts really assess future technology success? A neural network and Bayesian analysis of early stage technology proposals |
| Auteur: |
Galbraith, Craig S. DeNoble, Alex F. Ehrlich, Sanford B. Kline, Doug M. |
| Verschenen in: |
Journal of high technology management research |
| Paginering: | Jaargang 17 (2007) nr. 2 pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 8 gevonden artikelen
| volgende >> |