Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
 
 
  Is there a tradeoff between average patent pendency and examination errors?
 
 
Titel: Is there a tradeoff between average patent pendency and examination errors?
Auteur: Batabyal, Amitrajeet A.
Nijkamp, Peter
Verschenen in: International review of economics & Finance
Paginering: Jaargang 17 (2008) nr. 1 pagina's 9 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Inc.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 9 van 14 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland