|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 22 van 64 gevonden artikelen
| Titel: |
Evaluation of coating thickness by thermal wave imaging: A comparative study of pulsed and lock-in infrared thermography – Part II: Experimental investigation |
| Auteur: |
Shrestha, Ranjit Kim, Wontae |
| Verschenen in: |
Infrared physics and technology |
| Paginering: | Jaargang 92 () nr. C pagina's 24-29 |
| Jaar: |
2018 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 22 van 64 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |