|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Microfocus-infrared synchrotron ellipsometer for mapping of ultra thin films |
| Auteur: |
Gensch, M. Korte, E.H. Esser, N. Schade, U. Hinrichs, K. |
| Verschenen in: |
Infrared physics and technology |
| Paginering: | Jaargang 49 (2006) nr. 1-2 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |