|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of the hydrogen concentration of silicon nitride layers by Fourier transform infrared spectroscopy |
| Auteur: |
Jonak-Auer, I. Meisels, R. Kuchar, F. |
| Verschenen in: |
Infrared physics and technology |
| Paginering: | Jaargang 38 (1997) nr. 4 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |