|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of refractive index of crystalline silicon in the infrared region on the basis of interference pattern observed in thick slab |
| Auteur: |
Vohánka, Jiří Večeře, Jiří Franta, Daniel Ohlídal, Ivan |
| Verschenen in: |
Infrared physics and technology |
| Paginering: | Jaargang 149 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2025 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |