|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 59 van 99 gevonden artikelen
| Titel: |
Micro-crack defects detection of semiconductor Si-wafers based on Barker code laser infrared thermography |
| Auteur: |
Bu, Chiwu Li, Rui Liu, Tao Shen, Runhong Wang, Jun Tang, Qingju |
| Verschenen in: |
Infrared physics and technology |
| Paginering: | Jaargang 123 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2022 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 59 van 99 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |