|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 61 van 79 gevonden artikelen
| Titel: |
Reduction in GaAs interfacial defects via structural phase variation of hydrogenated silicon films |
| Auteur: |
Phong Pham, Duy Kim, Taeyong Lee, Sunhwa Yi, Junsin |
| Verschenen in: |
Infrared physics and technology |
| Paginering: | Jaargang 111 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 61 van 79 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |