|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 79 gevonden artikelen
| Titel: |
Accurate electronic transport characterization of B+ ion-implanted silicon wafers with self-normalized nonlinear photocarrier radiometry |
| Auteur: |
Lei, Xiaoke Li, Bincheng Sun, Qiming Wang, Jing Gao, Chunming Wang, Yafei |
| Verschenen in: |
Infrared physics and technology |
| Paginering: | Jaargang 111 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2020 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 79 gevonden artikelen
| volgende >> |