|
Investigation of spatial and energetic trap distributions in 1 nm EOT SiO2/HfO2 by discharging-sweep mode amplitude charge pumping |
|
|
|
Titel: |
Investigation of spatial and energetic trap distributions in 1 nm EOT SiO2/HfO2 by discharging-sweep mode amplitude charge pumping |
Auteur: |
Chung, Eun-Ae Nam, Kab-Jin Kim, Young-Pil Min, Ji-Young Cho, Moonju Hong, Hyungseok Han, Jeong Lee, Jae-Duk Shin, Yu-Gyun Choi, Siyoung Kim, Sangsig |
Verschenen in: |
Solid state sciences |
Paginering: |
Jaargang 13 (2011) nr. 6 pagina's 4 p. |
Jaar: |
2011 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Masson SAS |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|