Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 12 van 16 gevonden artikelen
 
 
  Residue-level error detection in cryoelectron microscopy models
 
 
Titel: Residue-level error detection in cryoelectron microscopy models
Auteur: Reggiano, Gabriella
Lugmayr, Wolfgang
Farrell, Daniel
Marlovits, Thomas C.
DiMaio, Frank
Verschenen in: Structure
Paginering: Jaargang 31 () nr. 7 pagina's 860-869.e4
Jaar: 2023
Inhoud:
Uitgever: Published by Elsevier B.V.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 12 van 16 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland