|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
An atom probe field ion microscope characterization of precipitates in a model vanadium alloy |
| Auteur: |
Jayaram, Raman Miller, M.K |
| Verschenen in: |
Scripta metallurgica et materiala |
| Paginering: | Jaargang 27 (1992) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1992 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |