|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| Titel: |
Metrological characterization of X-ray diffraction methods at different acquisition geometries for determination of crystallite size in nano-scale materials |
| Auteur: |
Uvarov, Vladimir Popov, Inna |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 85 (2013) nr. C pagina's 13 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |