Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
 
 
  Metrological characterization of X-ray diffraction methods at different acquisition geometries for determination of crystallite size in nano-scale materials
 
 
Titel: Metrological characterization of X-ray diffraction methods at different acquisition geometries for determination of crystallite size in nano-scale materials
Auteur: Uvarov, Vladimir
Popov, Inna
Verschenen in: Materials characterization
Paginering: Jaargang 85 (2013) nr. C pagina's 13 p.
Jaar: 2013
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Inc.
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 9 van 15 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland