|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Determining the sputter yields of molybdenum in low-index crystal planes via electron backscattered diffraction, focused ion beam and atomic force microscope |
| Auteur: |
Huang, H.S. Chiu, C.H. Hong, I.T. Tung, H.C. Chien, F.S.-S. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 83 (2013) nr. C pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |