|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Multiscale microstructural characterization of Sn-rich alloys by three dimensional (3D) X-ray synchrotron tomography and focused ion beam (FIB) tomography |
| Auteur: |
Yazzie, K.E. Williams, J.J. Phillips, N.C. De Carlo, F. Chawla, N. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 70 (2012) nr. C pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |