|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 17 gevonden artikelen
| Titel: |
Focused Ion Beam (FIB) tomography of nanoindentation damage in nanoscale metal/ceramic multilayers |
| Auteur: |
Singh, D.R.P. Chawla, N. Shen, Y.-L. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 61 (2010) nr. 4 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 17 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |