|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of thickness, density and roughness of Co–Ni–Al single and multiple layer films deposited by high-vacuum e-beam evaporation on different substrates |
| Auteur: |
Baake, O. Öksüzoglu, R.M. Flege, S. Hoffmann, P.S. Gottschalk, S. Fuess, H. Ortner, H.M. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 57 (2006) nr. 1 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 13 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |