|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| Titel: |
Backscattered electron microscopy technique enhancing stretch zone width imaging for initiation fracture toughness measurements |
| Auteur: |
Tarpani, J.R. Bose, W.W. Spinelli, D. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 51 (2003) nr. 2-3 pagina's 12 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 14 gevonden artikelen
| volgende >> |