|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic force microscopy—a visual probe to characterize nanodosimetric devices |
| Auteur: |
Gameiro, C.G. Alves Jr., S. da Silva Jr., E.F. Achete, C.A. Simão, R.A. Santa-Cruz, P.A. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 50 (2003) nr. 2-3 pagina's 8 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 28 gevonden artikelen
| volgende >> |