|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
Application of confocal laser scanning microscopy, atomic force microscopy, and the profilometric method in quantitative fractography |
| Auteur: |
Cwajna, Jan Roskosz, Stanisław |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 46 (2001) nr. 2-3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |