|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 8 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of Oxide Thickness on Al-10%Si and Al-10%Si–.05%Li Alloys by TEM and Electron Microprobe |
| Auteur: |
Shaarbaf, Mortaza |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 43 (1999) nr. 4 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 8 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |