|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Preparation, transmission electron microscopy, and microanalytical investigations of metal-III-V semiconductor interfaces |
| Auteur: |
Klein, A. Urban, I. Ressel, P. Nebauer, E. Merkel, U. Österle, W. |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 37 (1996) nr. 2-3 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 14 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |