|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 79 gevonden artikelen
| Titel: |
Artifact-free sample preparation of metal thin films using Xe plasma-focused ion beam milling for atomic resolution and in situ biasing analyses |
| Auteur: |
Lee, Hee-Beom Kim, Seon Je Jung, Min-Hyoung Kim, Young-Hoon Kim, Su Jae Gao, Hai-Feng Van Leer, Brandon Jeong, Se-Young Jeong, Hu Young Kim, Young-Min |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 216 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2024 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 79 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |