|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 112 gevonden artikelen
| Titel: |
Atomic-scale revealing defects in ion irradiated 4H-SiC |
| Auteur: |
Nan, Shuai Xiao, Meng Guan, Zhou Feng, Chuangshi Huo, Chao Li, Gong Zhai, Pengfei Zhang, Fuxiang |
| Verschenen in: |
Materials characterization |
| Paginering: | Jaargang 203 () nr. C pagina's p. |
| Jaar: |
2023 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Inc. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 112 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |